Structural defects and electronic structure of N-ion implanted TiO2: Bulk versus thin film › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2015.07.190
Конечная издательская версия

D. A. Zatsepin
D. W. Boukhvalov
E. Z. Kurmaev
I. S. Zhidkov
N. V. Gavrilov
M. A. Korotin
S. S. Kim

Язык оригинала	Английский
Страницы (с-по)	984-988
Число страниц	5
Журнал	Applied Surface Science
Том	355
DOI	https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2015.07.190
Состояние	Опубликовано - 15 нояб. 2015

Предметные области ASJC Scopus

Surfaces, Coatings and Films

Предметные области WoS

Химия, Физическая
Материаловедение, Покрытия и пленки
Физика, Прикладная
Физика, Конденсированных сред

ID: 554466