Development of alpha tracks measurement with thermal oven as an etching technique for SSNTDs

Язык оригинала	Английский
Страницы (с-по)	2903-2908
Число страниц	6
Журнал	Materials Today: Proceedings
Том	44
DOI	https://doi.org/10.1016/j.matpr.2020.12.232
Состояние	Опубликовано - 2021
Событие	2021 International Conference on Materials and Technologies, Material TECH 2021 - Raipur, Индия Продолжительность: 9 янв. 2021 → 10 янв. 2021

ID: 21864569