Тонкие пленки FeXNi100 - X (X = 20, 17, 15%), осажденные магнетронным распылением на стеклянные и полимерные подложки, были исследованы в интервале толщин 50-500 нм. На основе анализа угловых зависимостей магниторезонансных спектров многослойная структура [Cu / Fe20Ni80]5 / Cu была выделена как наиболее перспективная для сенсорных приложений.