Standard

ЗЕРКАЛЬНАЯ И ИНВЕРСИОННАЯ СИММЕТРИИ НАНОТОНКИХ ПРОСТРАНСТВЕННЫХ ДИССИПАТИВНЫХ СТРУКТУР, ИЗОМОРФИЗМ ПРЯМОГО И ОБРАТНОГО ПРОСТРАНСТВА И ПРИНЦИП СИММЕТРИИ КЮРИ. / Малков, Вячеслав Б.; Николаенко, Ирина Владимировна; Швейкин, Геннадий Петрович и др.
в: Расплавы, № 4, 2020, стр. 424-433.

Результаты исследований: Вклад в журнал › Статья › Рецензирование

Harvard

Малков, ВБ, Николаенко, ИВ, Швейкин, ГП, Пушин, ВГ, Малков, АВ, Шульгин, БВ, Малков, ОВ & Черненький, ПН 2020, 'ЗЕРКАЛЬНАЯ И ИНВЕРСИОННАЯ СИММЕТРИИ НАНОТОНКИХ ПРОСТРАНСТВЕННЫХ ДИССИПАТИВНЫХ СТРУКТУР, ИЗОМОРФИЗМ ПРЯМОГО И ОБРАТНОГО ПРОСТРАНСТВА И ПРИНЦИП СИММЕТРИИ КЮРИ', Расплавы, № 4, стр. 424-433. https://doi.org/10.31857/S0235010620040076

APA

Малков, В. Б., Николаенко, И. В., Швейкин, Г. П., Пушин, В. Г., Малков, А. В., Шульгин, Б. В., Малков, О. В., & Черненький, П. Н. (2020). ЗЕРКАЛЬНАЯ И ИНВЕРСИОННАЯ СИММЕТРИИ НАНОТОНКИХ ПРОСТРАНСТВЕННЫХ ДИССИПАТИВНЫХ СТРУКТУР, ИЗОМОРФИЗМ ПРЯМОГО И ОБРАТНОГО ПРОСТРАНСТВА И ПРИНЦИП СИММЕТРИИ КЮРИ. Расплавы, (4), 424-433. https://doi.org/10.31857/S0235010620040076

Vancouver

Малков ВБ, Николаенко ИВ, Швейкин ГП, Пушин ВГ, Малков АВ, Шульгин БВ и др. ЗЕРКАЛЬНАЯ И ИНВЕРСИОННАЯ СИММЕТРИИ НАНОТОНКИХ ПРОСТРАНСТВЕННЫХ ДИССИПАТИВНЫХ СТРУКТУР, ИЗОМОРФИЗМ ПРЯМОГО И ОБРАТНОГО ПРОСТРАНСТВА И ПРИНЦИП СИММЕТРИИ КЮРИ. Расплавы. 2020;(4):424-433. doi: 10.31857/S0235010620040076

Author

Малков, Вячеслав Б. ; Николаенко, Ирина Владимировна ; Швейкин, Геннадий Петрович и др. / ЗЕРКАЛЬНАЯ И ИНВЕРСИОННАЯ СИММЕТРИИ НАНОТОНКИХ ПРОСТРАНСТВЕННЫХ ДИССИПАТИВНЫХ СТРУКТУР, ИЗОМОРФИЗМ ПРЯМОГО И ОБРАТНОГО ПРОСТРАНСТВА И ПРИНЦИП СИММЕТРИИ КЮРИ. в: Расплавы. 2020 ; № 4. стр. 424-433.

BibTeX

@article{e928ad255fa04b9d8fc128f316c63c60,
title = "ЗЕРКАЛЬНАЯ И ИНВЕРСИОННАЯ СИММЕТРИИ НАНОТОНКИХ ПРОСТРАНСТВЕННЫХ ДИССИПАТИВНЫХ СТРУКТУР, ИЗОМОРФИЗМ ПРЯМОГО И ОБРАТНОГО ПРОСТРАНСТВА И ПРИНЦИП СИММЕТРИИ КЮРИ",
abstract = "При электронно-микроскопическом исследовании нанотонких пространственных диссипативных структур (ПДС) гексагонального селена, формирующихся в аморфных пленках, решетка которых испытывает упругое ротационное искривление, обнаружены зеркальная и инверсионная симметрии систем изгибных экстинкционных контуров, присутствующих на электронно-микроскопических изображениях нанотонких ПДС. Установлено, что зеркальная и инверсионная симметрии систем изгибных экстинкционных контуров, присутствующих на электронно-микроскопических изображениях нанотонких ПДС обусловлены зеркальной и инверсионной симметрией прямой решетки нанотонких пространственных диссипативных структур гексагонального селена, испытывающей упругое ротационное искривление.",
author = "Малков, {Вячеслав Б.} and Николаенко, {Ирина Владимировна} and Швейкин, {Геннадий Петрович} and Пушин, {Владимир Григорьевич} and Малков, {А. В.} and Шульгин, {Борис Владимирович} and Малков, {О. В.} and Черненький, {П. Н.}",
year = "2020",
doi = "10.31857/S0235010620040076",
language = "Русский",
pages = "424--433",
journal = "Расплавы",
issn = "0235-0106",
publisher = "Издательство {"}Наука{"}",
number = "4",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - ЗЕРКАЛЬНАЯ И ИНВЕРСИОННАЯ СИММЕТРИИ НАНОТОНКИХ ПРОСТРАНСТВЕННЫХ ДИССИПАТИВНЫХ СТРУКТУР, ИЗОМОРФИЗМ ПРЯМОГО И ОБРАТНОГО ПРОСТРАНСТВА И ПРИНЦИП СИММЕТРИИ КЮРИ

AU - Малков, Вячеслав Б.

AU - Николаенко, Ирина Владимировна

AU - Швейкин, Геннадий Петрович

AU - Пушин, Владимир Григорьевич

AU - Малков, А. В.

AU - Шульгин, Борис Владимирович

AU - Малков, О. В.

AU - Черненький, П. Н.

PY - 2020

Y1 - 2020

N2 - При электронно-микроскопическом исследовании нанотонких пространственных диссипативных структур (ПДС) гексагонального селена, формирующихся в аморфных пленках, решетка которых испытывает упругое ротационное искривление, обнаружены зеркальная и инверсионная симметрии систем изгибных экстинкционных контуров, присутствующих на электронно-микроскопических изображениях нанотонких ПДС. Установлено, что зеркальная и инверсионная симметрии систем изгибных экстинкционных контуров, присутствующих на электронно-микроскопических изображениях нанотонких ПДС обусловлены зеркальной и инверсионной симметрией прямой решетки нанотонких пространственных диссипативных структур гексагонального селена, испытывающей упругое ротационное искривление.

AB - При электронно-микроскопическом исследовании нанотонких пространственных диссипативных структур (ПДС) гексагонального селена, формирующихся в аморфных пленках, решетка которых испытывает упругое ротационное искривление, обнаружены зеркальная и инверсионная симметрии систем изгибных экстинкционных контуров, присутствующих на электронно-микроскопических изображениях нанотонких ПДС. Установлено, что зеркальная и инверсионная симметрии систем изгибных экстинкционных контуров, присутствующих на электронно-микроскопических изображениях нанотонких ПДС обусловлены зеркальной и инверсионной симметрией прямой решетки нанотонких пространственных диссипативных структур гексагонального селена, испытывающей упругое ротационное искривление.

UR - https://www.elibrary.ru/item.asp?id=43089314

U2 - 10.31857/S0235010620040076

DO - 10.31857/S0235010620040076

M3 - Статья

SP - 424

EP - 433

JO - Расплавы

JF - Расплавы

SN - 0235-0106

IS - 4

ER -

ID: 13414798