При электронно-микроскопическом исследовании нанотонких пространственных диссипативных структур (ПДС) гексагонального селена, формирующихся в аморфных пленках, решетка которых испытывает упругое ротационное искривление, обнаружены зеркальная и инверсионная симметрии систем изгибных экстинкционных контуров, присутствующих на электронно-микроскопических изображениях нанотонких ПДС. Установлено, что зеркальная и инверсионная симметрии систем изгибных экстинкционных контуров, присутствующих на электронно-микроскопических изображениях нанотонких ПДС обусловлены зеркальной и инверсионной симметрией прямой решетки нанотонких пространственных диссипативных структур гексагонального селена, испытывающей упругое ротационное искривление.