На образцах многослойной пленочной структуры Cu / [FeNi / Cu]10, полученных методом ионно-плазменного распыления, проведен сравнительный анализ петель магнитного гистерезиса, измеренных на вибрационном магнитометре, магнитоизмерительном комплексе с первичным преобразователем на основе СКВИДа (СКВИД-магнитометр) и магнитооптическом Керр-микроскопе. Использование СКВИД-магнитометра позволило обнаружить ступенчатый характер перемагничивания пленочной структуры, наличие которого было подтверждено наблюдениями на Керр-микроскопе в квазистатическом режиме перемагничивания.