Research output: Patent
Research output: Patent
}
TY - PAT
T1 - Программа для вычисления радиуса контактной площадки проводящего зонда СЗМ по измерениям емкости системы зонд-электрод
T2 - свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ
AU - Мельников, Семен Алексеевич
AU - Кособоков, Михаил Сергеевич
AU - Аликин, Денис Олегович
N1 - Работа выполнена с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ (рег.№ 2968), поддержанного министерством науки и высшего образования РФ (Проект 075-15-2021-677).
PY - 2023/10/26
Y1 - 2023/10/26
N2 - Программа предназначена для вычисления методом конечных элементов радиуса контактной площадки проводящего зонда сканирующего зондового микроскопа из измеренной зависимости ёмкости системы зонд-заземленный электрод от расстояния от поверхности электрода до зонда. Задаваемые параметры: потенциал зонда, высота и угол наклона зонда, измеренная зависимость емкости системы. Программа может быть использована для определения величины радиуса контактной площадки зонда, определяющего пространственное разрешение метода, и ее изменения в результате сканирования при реализации различных мод сканирующей зондовой микроскопии. Работа выполнена с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ (рег.№ 2968), поддержанного министерством науки и высшего образования РФ (Проект 075-15-2021-677).
AB - Программа предназначена для вычисления методом конечных элементов радиуса контактной площадки проводящего зонда сканирующего зондового микроскопа из измеренной зависимости ёмкости системы зонд-заземленный электрод от расстояния от поверхности электрода до зонда. Задаваемые параметры: потенциал зонда, высота и угол наклона зонда, измеренная зависимость емкости системы. Программа может быть использована для определения величины радиуса контактной площадки зонда, определяющего пространственное разрешение метода, и ее изменения в результате сканирования при реализации различных мод сканирующей зондовой микроскопии. Работа выполнена с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ (рег.№ 2968), поддержанного министерством науки и высшего образования РФ (Проект 075-15-2021-677).
UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=56001693
M3 - Патент
M1 - 2023682555
Y2 - 2023/10/16
PB - Федеральный институт промышленной собственности
ER -
ID: 57027874