Millimeter Wave Resistance of Metal-Dielectric Co-x(SiO2)(1-x) and Co-x(Al2O3)(1-x) Films › Обзор исследований

DOI

https://doi.org/10.1109/TNANO.2017.2748344
Конечная издательская версия

Anatoly B. Rinkevich
Dmitry V. Perov
Vladimir O. Vaskovsky
Alexandr N. Gorkovenko
Evgeny A. Kuznetsov

Язык оригинала	Английский
Номер статьи	8023889
Страницы (с-по)	1067-1072
Число страниц	6
Журнал	IEEE Transactions on Nanotechnology
Том	16
Номер выпуска	6
DOI	https://doi.org/10.1109/TNANO.2017.2748344
Состояние	Опубликовано - нояб. 2017

Предметные области ASJC Scopus

Computer Science Applications
Electrical and Electronic Engineering

Предметные области WoS

Технологии, Электротехника и электроника
Нанотехнологии
Материаловедение, Междисциплинарные труды

ID: 6176775