Тонкие магнитные пленки и многослойные структуры широко используются в электронных устройствах и сенсорных системах, включая системы для магнитного неразрушающего контроля и магнитного биодетектирования. Создание сенсорных элементов нового поколения требует всесторонней аттестации пленочных наноструктур. В настоящей работе представлена оригинальная система, позволяющая в автоматическом режиме измерять параметры тонких ферромагнитных пленочных структур на частотах от 0,1 до 25 ГГц в постоянном магнитном поле до 18 кЭ.
