Визуализированы поля магнитных систем с известной степенью структурной и магнитной неоднородностями при помощи индикаторных аморфных пленок с перпендикулярной анизотропией. Определены характерные магнитооптические картины, соответствующие распределению нормальной к плоскости индикаторных пленок компоненты магнитного поля. Рассчитаны теоретические топограммы модельных магнитных систем, близких к исследованным по степени структурной и магнитной неоднородности. Адекватность магнитооптического отображения подтверждается сравнением экспериментальных и теоретических топограмм. Показана возможность экспрессного контроля характеристик магнитных систем при помощи лабораторной модели магнитооптического визуализатора посредством наблюдения магнитооптического контраста индикаторных пленок гадолиний–кобальт при действии переменного поля.