Standard

Программа для фрактального и мультифрактального анализа АСМ изображений поверхности тонких пленок: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ. / Турыгин, Антон Павлович (Изобретатель).
Федеральный институт промышленной собственности. Номер патента: 2023683837. авг. 29, 2023.

Результаты исследований: Патент

Harvard

Турыгин, АП авг.. 29 2023, Программа для фрактального и мультифрактального анализа АСМ изображений поверхности тонких пленок: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ, Номер патента 2023683837. <https://www1.fips.ru/registers-doc-view/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2023683837&TypeFile=html>

APA

Турыгин, А. П. (2023). Программа для фрактального и мультифрактального анализа АСМ изображений поверхности тонких пленок: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ. (Номер патента 2023683837). Федеральный институт промышленной собственности. https://www1.fips.ru/registers-doc-view/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2023683837&TypeFile=html

Vancouver

Турыгин АП, Изобретатель. Программа для фрактального и мультифрактального анализа АСМ изображений поверхности тонких пленок: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ. 2023683837. 2023 авг. 29.

Author

Турыгин, Антон Павлович (Изобретатель). / Программа для фрактального и мультифрактального анализа АСМ изображений поверхности тонких пленок : свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ. Федеральный институт промышленной собственности. Номер патента: 2023683837. авг. 29, 2023.

BibTeX

@misc{91267585425f4249b51ebd12c5eb61c0,
title = "Программа для фрактального и мультифрактального анализа АСМ изображений поверхности тонких пленок: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ",
abstract = "Программа предназначена для определения характеристик поверхности тонких пленок методами фрактального анализа. Входные данные: двумерный массив высот поверхности (рельеф) тонкой пленки, измеренный методом атомно-силовой микроскопии. Для анализа массива данных используются: автокорреляционная функция, функция корреляции высота-высота и двумерный мультифрактальный анализ флуктуаций поверхности. Результаты расчета представляют собой: величину арифметической шероховатости, длину корреляции, фрактальную размерность и, параметры мультифрактального спектра. Программа может быть использована для определения количественных характеристик рельефа поверхности различных тонких пленок. Исследование выполнено при финансовой поддержке Минобрнауки РФ в рамках Программы развития УрФУ в соответствии с программой стратегического академического лидерства «Приоритет-2030».",
author = "Турыгин, {Антон Павлович}",
note = "Исследование выполнено при финансовой поддержке Минобрнауки РФ в рамках Программы развития УрФУ в соответствии с программой стратегического академического лидерства «Приоритет-2030».; 2023683837",
year = "2023",
month = aug,
day = "29",
language = "Русский",
publisher = "Федеральный институт промышленной собственности",
address = "Российская Федерация",
type = "Patent",

}

RIS

TY - PAT

T1 - Программа для фрактального и мультифрактального анализа АСМ изображений поверхности тонких пленок

T2 - свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ

AU - Турыгин, Антон Павлович

N1 - Исследование выполнено при финансовой поддержке Минобрнауки РФ в рамках Программы развития УрФУ в соответствии с программой стратегического академического лидерства «Приоритет-2030».

PY - 2023/8/29

Y1 - 2023/8/29

N2 - Программа предназначена для определения характеристик поверхности тонких пленок методами фрактального анализа. Входные данные: двумерный массив высот поверхности (рельеф) тонкой пленки, измеренный методом атомно-силовой микроскопии. Для анализа массива данных используются: автокорреляционная функция, функция корреляции высота-высота и двумерный мультифрактальный анализ флуктуаций поверхности. Результаты расчета представляют собой: величину арифметической шероховатости, длину корреляции, фрактальную размерность и, параметры мультифрактального спектра. Программа может быть использована для определения количественных характеристик рельефа поверхности различных тонких пленок. Исследование выполнено при финансовой поддержке Минобрнауки РФ в рамках Программы развития УрФУ в соответствии с программой стратегического академического лидерства «Приоритет-2030».

AB - Программа предназначена для определения характеристик поверхности тонких пленок методами фрактального анализа. Входные данные: двумерный массив высот поверхности (рельеф) тонкой пленки, измеренный методом атомно-силовой микроскопии. Для анализа массива данных используются: автокорреляционная функция, функция корреляции высота-высота и двумерный мультифрактальный анализ флуктуаций поверхности. Результаты расчета представляют собой: величину арифметической шероховатости, длину корреляции, фрактальную размерность и, параметры мультифрактального спектра. Программа может быть использована для определения количественных характеристик рельефа поверхности различных тонких пленок. Исследование выполнено при финансовой поддержке Минобрнауки РФ в рамках Программы развития УрФУ в соответствии с программой стратегического академического лидерства «Приоритет-2030».

UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=56003178

M3 - Патент

M1 - 2023683837

Y2 - 2023/10/26

PB - Федеральный институт промышленной собственности

ER -

ID: 57082802