Standard

Программа для расчёта концентрации доменных стенок в СМПО изображениях: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ. / Турыгин, Антон Павлович (Изобретатель).
Федеральный институт промышленной собственности. Номер патента: 2023668505. авг. 29, 2023.

Результаты исследований: Патент

Harvard

Турыгин, АП авг.. 29 2023, Программа для расчёта концентрации доменных стенок в СМПО изображениях: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ, Номер патента 2023668505. <https://www1.fips.ru/registers-doc-view/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2023668505&TypeFile=html>

APA

Турыгин, А. П. (2023). Программа для расчёта концентрации доменных стенок в СМПО изображениях: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ. (Номер патента 2023668505). Федеральный институт промышленной собственности. https://www1.fips.ru/registers-doc-view/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2023668505&TypeFile=html

Vancouver

Турыгин АП, Изобретатель. Программа для расчёта концентрации доменных стенок в СМПО изображениях: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ. 2023668505. 2023 авг. 29.

Author

Турыгин, Антон Павлович (Изобретатель). / Программа для расчёта концентрации доменных стенок в СМПО изображениях : свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ. Федеральный институт промышленной собственности. Номер патента: 2023668505. авг. 29, 2023.

BibTeX

@misc{9acb92df34f448b9a549351e68d8c29e,
title = "Программа для расчёта концентрации доменных стенок в СМПО изображениях: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ",
abstract = "Программа предназначена для определения концентрации сегнетоэлектрических и сегнетоэластических доменных стенок в сегнетоэлектрической керамике. Входные данные: изображение доменной структуры, полученное методом силовой микроскопии пьезоэлектрического отклика, и карта границ зерен. К изображению применяется серия фильтров для сглаживания изображения и выявления сегнетоэлектрических доменных стенок. Для выявления доменных стенок используется алгоритм обнаружения границ, основанный на операторе Собеля. Результаты расчета: величина концентрации сегнетоэлектрических и сегнетоэластических доменных стенок. Программа может быть использована для анализа изображений доменных структур в сегнетоэлектрической керамике. Работа выполнена с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ (рег.№2968), поддержанного министерством науки и высшего образования РФ (Проект 075-15-2021-677).",
author = "Турыгин, {Антон Павлович}",
note = "Работа выполнена с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ (рег.№2968), поддержанного министерством науки и высшего образования РФ (Проект 075-15-2021-677).; 2023668505",
year = "2023",
month = aug,
day = "29",
language = "Русский",
publisher = "Федеральный институт промышленной собственности",
address = "Российская Федерация",
type = "Patent",

}

RIS

TY - PAT

T1 - Программа для расчёта концентрации доменных стенок в СМПО изображениях

T2 - свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ

AU - Турыгин, Антон Павлович

N1 - Работа выполнена с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ (рег.№2968), поддержанного министерством науки и высшего образования РФ (Проект 075-15-2021-677).

PY - 2023/8/29

Y1 - 2023/8/29

N2 - Программа предназначена для определения концентрации сегнетоэлектрических и сегнетоэластических доменных стенок в сегнетоэлектрической керамике. Входные данные: изображение доменной структуры, полученное методом силовой микроскопии пьезоэлектрического отклика, и карта границ зерен. К изображению применяется серия фильтров для сглаживания изображения и выявления сегнетоэлектрических доменных стенок. Для выявления доменных стенок используется алгоритм обнаружения границ, основанный на операторе Собеля. Результаты расчета: величина концентрации сегнетоэлектрических и сегнетоэластических доменных стенок. Программа может быть использована для анализа изображений доменных структур в сегнетоэлектрической керамике. Работа выполнена с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ (рег.№2968), поддержанного министерством науки и высшего образования РФ (Проект 075-15-2021-677).

AB - Программа предназначена для определения концентрации сегнетоэлектрических и сегнетоэластических доменных стенок в сегнетоэлектрической керамике. Входные данные: изображение доменной структуры, полученное методом силовой микроскопии пьезоэлектрического отклика, и карта границ зерен. К изображению применяется серия фильтров для сглаживания изображения и выявления сегнетоэлектрических доменных стенок. Для выявления доменных стенок используется алгоритм обнаружения границ, основанный на операторе Собеля. Результаты расчета: величина концентрации сегнетоэлектрических и сегнетоэластических доменных стенок. Программа может быть использована для анализа изображений доменных структур в сегнетоэлектрической керамике. Работа выполнена с использованием оборудования УЦКП «Современные нанотехнологии» УрФУ (рег.№2968), поддержанного министерством науки и высшего образования РФ (Проект 075-15-2021-677).

UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=54650297

M3 - Патент

M1 - 2023668505

Y2 - 2023/08/23

PB - Федеральный институт промышленной собственности

ER -

ID: 57081895