DOI

Актуальная проблема неразрушающего контроля - измерение (или расчет) магнитных полей как внутри, так и снаружи ферромагнитных изделий. Определение параметров дефектов значительно усложняется тем, что исследуемые образцы могут быть изготовлены из различных марок стали. Кроме того, при расчете магнитных полей необходимо учитывать нелинейность зависимости намагниченности и магнитной проницаемости от магнитного поля. Вместе с тем компьютерное моделирование дает возможность исследовать магнитные поля вблизи дефектов различных форм, ориентаций и размеров. В данной работе представлены результаты анализа топографии магнитных полей дефектов, относящихся к трем классам: поверхностные дефекты (трещины), включения и дефекты типа продольного расслоения. Приведены отличительные признаки таких дефектов и алгоритм, с помощью которого и данных анализа магнитного поля рассеяния можно отнести дефект к тому или иному классу и подобрать в рамках этого класса подход для расчета его параметров. Предложена методика, основанная на нахождении экстремумов нормальной магнитной составляющей, для оценки направления наклона поверхностных дефектов и дефектов типа продольного расслоения в ферромагнитной пластине. Полученные результаты могут быть использованы при структурировании данных о полях дефектов различных классов и разработке на их основе программного обеспечения для измерительного оборудования (дефектоскопов и др.).
Переведенное названиеANALYSIS OF THE TOPOGRAPHY OF MAGNETIC FLUX LEAKAGE IN FERROMAGNETIC PRODUCTS
Язык оригиналаРусский
Страницы (с-по)33-37
Число страниц5
ЖурналЗаводская лаборатория. Диагностика материалов
Том87
Номер выпуска2
DOI
СостояниеОпубликовано - 2021

    Области исследований

  • Classes of defects, Magnetic flux leakage, Non-destructive and magnetic testing, Orientation of a defect

    Уровень публикации

  • Перечень ВАК
  • Russian Science Citation Index

    ГРНТИ

  • 29.00.00 ФИЗИКА

    Предметные области ASJC Scopus

  • Mechanics of Materials
  • Analytical Chemistry
  • Applied Mathematics
  • Materials Science(all)

ID: 20895538