Экспериментально и численно изучена квадратная решетка микроконтактов с периодом 1 мкм в плотном низкоподвижном двумерном электронном газе. При изменении затворного напряжения Vg проводимость решетки а меняется на 5 порядков в диапазоне температур T от 1.4 до 77 К в хорошем согласии с подгоночной формулой σ(Vg) = A(Vg - Vg∗(T))β с β = 4. При низких температурах насыщение и σ(T) отсутствует, что объясняется электрон-электронным взаимодействием. Модель решетки с феноменологическим потенциалом в микроконтактах позволила воспроизвести зависимость σ(T, Vg) и найти долю микроконтактов x(Vg, T) с кондактансами больше а. Выяснено, что зависимость x(Vg) нелинейна, и критический индекс в формуле σ ∝ (x - 1/2)t принимает значения 1.3 <t(T, Vg) <β.