TY - JOUR

T1 - КИНЕТИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ПЛАЗМЫ, ГЕНЕРИРУЕМОЙ ПОТОКОМ ПЕРВИЧНЫХ ЭЛЕКТРОНОВ

AU - Никулин, Сергей Павлович

PY - 2023

Y1 - 2023

N2 - Известны три механизма генерации плазмы в газовых разрядах низкого давления. Это захват электронов в области горба потенциала, взаимная компенсация зарядов ионного и электронного потоков и захват ионов в потенциальную яму, формируемую интенсивным потоком первичных электронов. Целью настоящей работы является разработка кинетической модели, позволяющей рассчитать характеристики плазмы в последнем из вышеуказанных случаев. В модели используется модельный интеграл столкновении в t-приближении. Концентрация первичных электронов предполагается однородной во всем промежутке. Для описания ионов мы используем подход, связанный с разделением на две группы - захваченных и уходящих частиц. Для уходящих частиц при выполнении определенных условий можно пренебречь вероятностью столкновений, и мы можем считать, что они уходят на стенки в режиме свободного полета. В работе получены выражения для функций распределения захваченных и уходящих ионов. Также получено выражение, связывающее частоту ионизации и глубину потенциальной ямы.

AB - Известны три механизма генерации плазмы в газовых разрядах низкого давления. Это захват электронов в области горба потенциала, взаимная компенсация зарядов ионного и электронного потоков и захват ионов в потенциальную яму, формируемую интенсивным потоком первичных электронов. Целью настоящей работы является разработка кинетической модели, позволяющей рассчитать характеристики плазмы в последнем из вышеуказанных случаев. В модели используется модельный интеграл столкновении в t-приближении. Концентрация первичных электронов предполагается однородной во всем промежутке. Для описания ионов мы используем подход, связанный с разделением на две группы - захваченных и уходящих частиц. Для уходящих частиц при выполнении определенных условий можно пренебречь вероятностью столкновений, и мы можем считать, что они уходят на стенки в режиме свободного полета. В работе получены выражения для функций распределения захваченных и уходящих ионов. Также получено выражение, связывающее частоту ионизации и глубину потенциальной ямы.

UR - https://www.elibrary.ru/item.asp?id=59998460

U2 - 10.33184/bulletin-bsu-2023.3.7

DO - 10.33184/bulletin-bsu-2023.3.7

M3 - Статья

VL - 28

SP - 262

EP - 265

JO - Вестник Башкирского университета

JF - Вестник Башкирского университета

SN - 1998-4812

IS - 3

ER -