Результаты исследований: Книга/отчет › Учебное издание › Рецензирование
Результаты исследований: Книга/отчет › Учебное издание › Рецензирование
}
TY - BOOK
T1 - Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии
T2 - учебное пособие
AU - Ищенко, Алексей Владимирович
AU - Вохминцев, Александр Сергеевич
AU - Огородников, Илья Игоревич
AU - Вайнштейн, Илья Александрович
A2 - Шульгин, Борис Владимирович
N1 - Рекомендовано методическим советом Уральского федерального университета в качестве учебного пособия для студентов вуза, обучающихся по направлениям подготовки 11.03.04 — Электроника и наноэлектроника, 12.03.01 — Приборостроение, 14.03.02 — Ядерные физика и технология, 14.05.04 — электроника и автоматика физических установок, 28.03.02 — Наноинженерия
PY - 2017
Y1 - 2017
N2 - В учебном пособии представлены основы методов получения изображений в сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Практическая часть пособия знакомит с устройством зондовых приборов, принципами их работы и режимами настройки. Представлены примеры лабораторных практикумов для обучения основным навыкам работы с оборудованием для СЗМ и со специализированным программным обеспечением, которое позволяет проводить анализ и обработку изображений, полученных при различных режимах работы зондового микроскопа. Пособие предназначено для бакалавров, магистров и специалистов инженерно-технических и естественно-научных образовательных направлений. Учебное пособие разработано в научно-образовательном центре «Наноматериалы и нанотехнологии» УрФУ.
AB - В учебном пособии представлены основы методов получения изображений в сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Практическая часть пособия знакомит с устройством зондовых приборов, принципами их работы и режимами настройки. Представлены примеры лабораторных практикумов для обучения основным навыкам работы с оборудованием для СЗМ и со специализированным программным обеспечением, которое позволяет проводить анализ и обработку изображений, полученных при различных режимах работы зондового микроскопа. Пособие предназначено для бакалавров, магистров и специалистов инженерно-технических и естественно-научных образовательных направлений. Учебное пособие разработано в научно-образовательном центре «Наноматериалы и нанотехнологии» УрФУ.
UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=30662143
M3 - Учебное издание
SN - 978-5-321-02523-9
BT - Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии
PB - Издательство Уральского университета
CY - Екатеринбург
ER -
ID: 6149620