Standard

Информационная система для анализа микроструктуры металлов с использованием средств графического ускорителя, на основе данных, полученных методом дифракции обратнорассеяных электронов: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ. / Демьяненко, Егор Олегович (Inventor); Истомин, Александр Сергеевич (Inventor); Карабаналов, Максим Сергеевич (Inventor) et al.
Федеральный институт промышленной собственности. Patent No.: 2022682765. Nov 25, 2022.

Research output: Patent

Harvard

Демьяненко, ЕО, Истомин, АС, Карабаналов, МС & Корниенко, ОЮ Nov. 25 2022, Информационная система для анализа микроструктуры металлов с использованием средств графического ускорителя, на основе данных, полученных методом дифракции обратнорассеяных электронов: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ, Patent No. 2022682765. <https://www1.fips.ru/fips_servl/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2022682765&TypeFile=html>

APA

Демьяненко, Е. О., Истомин, А. С., Карабаналов, М. С., & Корниенко, О. Ю. (2022). Информационная система для анализа микроструктуры металлов с использованием средств графического ускорителя, на основе данных, полученных методом дифракции обратнорассеяных электронов: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ. (Patent No. 2022682765). Федеральный институт промышленной собственности. https://www1.fips.ru/fips_servl/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2022682765&TypeFile=html

Vancouver

Демьяненко ЕО, Истомин АС, Карабаналов МС, Корниенко ОЮ, inventors. Информационная система для анализа микроструктуры металлов с использованием средств графического ускорителя, на основе данных, полученных методом дифракции обратнорассеяных электронов: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ. 2022682765. 2022 Nov 25.

Author

Демьяненко, Егор Олегович (Inventor) ; Истомин, Александр Сергеевич (Inventor) ; Карабаналов, Максим Сергеевич (Inventor) et al. / Информационная система для анализа микроструктуры металлов с использованием средств графического ускорителя, на основе данных, полученных методом дифракции обратнорассеяных электронов : свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ. Федеральный институт промышленной собственности. Patent No.: 2022682765. Nov 25, 2022.

BibTeX

@misc{a6ac13438daa4b5e9e0272e473550ffb,
title = "Информационная система для анализа микроструктуры металлов с использованием средств графического ускорителя, на основе данных, полученных методом дифракции обратнорассеяных электронов: свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ",
abstract = "Программа предназначена для анализа микроструктуры металлов с использованием средств графического ускорителя на основе данных, полученных методом дифракции обратнорассеяных электронов. Программа является приложением, написанном с использованием библиотеки Cloo и языка C для работы с графическим процессором. Предусмотрен импорт исходных данных в формате .xlsx и их сохранение в формате .dip (.Json). Результаты расчета представляются в численном и графическом виде. Тип ЭВМ: IBM PC-совмест. ПК на базе процессора Pentium и выше; ОС: Windows.",
author = "Демьяненко, {Егор Олегович} and Истомин, {Александр Сергеевич} and Карабаналов, {Максим Сергеевич} and Корниенко, {Ольга Юрьевна}",
year = "2022",
month = nov,
day = "25",
language = "Русский",
publisher = "Федеральный институт промышленной собственности",
address = "Российская Федерация",
type = "Patent",
note = "2022682765",

}

RIS

TY - PAT

T1 - Информационная система для анализа микроструктуры металлов с использованием средств графического ускорителя, на основе данных, полученных методом дифракции обратнорассеяных электронов

T2 - свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ

AU - Демьяненко, Егор Олегович

AU - Истомин, Александр Сергеевич

AU - Карабаналов, Максим Сергеевич

AU - Корниенко, Ольга Юрьевна

PY - 2022/11/25

Y1 - 2022/11/25

N2 - Программа предназначена для анализа микроструктуры металлов с использованием средств графического ускорителя на основе данных, полученных методом дифракции обратнорассеяных электронов. Программа является приложением, написанном с использованием библиотеки Cloo и языка C для работы с графическим процессором. Предусмотрен импорт исходных данных в формате .xlsx и их сохранение в формате .dip (.Json). Результаты расчета представляются в численном и графическом виде. Тип ЭВМ: IBM PC-совмест. ПК на базе процессора Pentium и выше; ОС: Windows.

AB - Программа предназначена для анализа микроструктуры металлов с использованием средств графического ускорителя на основе данных, полученных методом дифракции обратнорассеяных электронов. Программа является приложением, написанном с использованием библиотеки Cloo и языка C для работы с графическим процессором. Предусмотрен импорт исходных данных в формате .xlsx и их сохранение в формате .dip (.Json). Результаты расчета представляются в численном и графическом виде. Тип ЭВМ: IBM PC-совмест. ПК на базе процессора Pentium и выше; ОС: Windows.

UR - https://www.elibrary.ru/item.asp?id=49976704

M3 - Патент

M1 - 2022682765

Y2 - 2022/11/22

PB - Федеральный институт промышленной собственности

ER -

ID: 46680777