Standard

Методы анализа структуры и свойств материалов: Методы анализа структуры и химического состава материалов: Практикум: учебное пособие. / Ларионов, Михаил Юрьевич; Ищенко, Алексей Владимирович; Петрова, Евгения Викторовна et al.
Екатеринбург: Издательство "Форт Диалог-Исеть", 2019. 124 p.

Research output: Book/Report › Scholarly edition › peer-review

Harvard

Ларионов, МЮ, Ищенко, АВ, Петрова, ЕВ, Вохминцев, АС, Гроховский, ВИ, Шульгин, БВ (ed.) & Бухаленков, ВВ 2019, Методы анализа структуры и свойств материалов: Методы анализа структуры и химического состава материалов: Практикум: учебное пособие. vol. 1, Издательство "Форт Диалог-Исеть", Екатеринбург.

APA

Ларионов, М. Ю., Ищенко, А. В., Петрова, Е. В., Вохминцев, А. С., Гроховский, В. И., Шульгин, Б. В. (Ed.), & Бухаленков, В. В. (2019). Методы анализа структуры и свойств материалов: Методы анализа структуры и химического состава материалов: Практикум: учебное пособие. Издательство "Форт Диалог-Исеть".

Vancouver

Ларионов МЮ, Ищенко АВ, Петрова ЕВ, Вохминцев АС, Гроховский ВИ, Шульгин БВ, (ed.) et al. Методы анализа структуры и свойств материалов: Методы анализа структуры и химического состава материалов: Практикум: учебное пособие. Екатеринбург: Издательство "Форт Диалог-Исеть", 2019. 124 p.

Author

Ларионов, Михаил Юрьевич ; Ищенко, Алексей Владимирович ; Петрова, Евгения Викторовна et al. / Методы анализа структуры и свойств материалов: Методы анализа структуры и химического состава материалов: Практикум : учебное пособие. Екатеринбург : Издательство "Форт Диалог-Исеть", 2019. 124 p.

BibTeX

@book{dff8847f4a06475ca637c14e0148678c,
title = "Методы анализа структуры и свойств материалов: Методы анализа структуры и химического состава материалов: Практикум: учебное пособие",
abstract = "Практикум содержит описание лабораторных работ по базовым разделам курсов «Методы анализа структуры и химического состава материалов», «Физические основы управления структурой материалов», «Основы технологии материалов», «Элементная база электроники». Предлагаемые работы знакомят студентов с такими методиками изучения свойств материалов как оптическая, электронная и зондовая микроскопия; оптическая, люминесцентная и мессбауэровская спектроскопия; рентгенофазовый анализ и анализ структуры материалов с помощью дифракции отражённых электронов.Для студентов вуза, обучающихся по направлениям подготовки 11.03.04 – Электроники и наноэлектроника, 12.03.01 – Приборостроение, 14.03.02 – Ядерные физика и технология, 14.05.04 – Электроника и автоматика физических установок.",
author = "Ларионов, {Михаил Юрьевич} and Ищенко, {Алексей Владимирович} and Петрова, {Евгения Викторовна} and Вохминцев, {Александр Сергеевич} and Гроховский, {Виктор Иосифович} and Бухаленков, {Владимир Васильевич}",
editor = "Шульгин, {Борис Владимирович}",
year = "2019",
language = "Русский",
isbn = "978-5-91128-174-8",
volume = "1",
publisher = "Издательство {"}Форт Диалог-Исеть{"}",
address = "Российская Федерация",

}

RIS

TY - BOOK

T1 - Методы анализа структуры и свойств материалов: Методы анализа структуры и химического состава материалов: Практикум

T2 - учебное пособие

AU - Ларионов, Михаил Юрьевич

AU - Ищенко, Алексей Владимирович

AU - Петрова, Евгения Викторовна

AU - Вохминцев, Александр Сергеевич

AU - Гроховский, Виктор Иосифович

A2 - Шульгин, Борис Владимирович

A2 - Бухаленков, Владимир Васильевич

PY - 2019

Y1 - 2019

N2 - Практикум содержит описание лабораторных работ по базовым разделам курсов «Методы анализа структуры и химического состава материалов», «Физические основы управления структурой материалов», «Основы технологии материалов», «Элементная база электроники». Предлагаемые работы знакомят студентов с такими методиками изучения свойств материалов как оптическая, электронная и зондовая микроскопия; оптическая, люминесцентная и мессбауэровская спектроскопия; рентгенофазовый анализ и анализ структуры материалов с помощью дифракции отражённых электронов.Для студентов вуза, обучающихся по направлениям подготовки 11.03.04 – Электроники и наноэлектроника, 12.03.01 – Приборостроение, 14.03.02 – Ядерные физика и технология, 14.05.04 – Электроника и автоматика физических установок.

AB - Практикум содержит описание лабораторных работ по базовым разделам курсов «Методы анализа структуры и химического состава материалов», «Физические основы управления структурой материалов», «Основы технологии материалов», «Элементная база электроники». Предлагаемые работы знакомят студентов с такими методиками изучения свойств материалов как оптическая, электронная и зондовая микроскопия; оптическая, люминесцентная и мессбауэровская спектроскопия; рентгенофазовый анализ и анализ структуры материалов с помощью дифракции отражённых электронов.Для студентов вуза, обучающихся по направлениям подготовки 11.03.04 – Электроники и наноэлектроника, 12.03.01 – Приборостроение, 14.03.02 – Ядерные физика и технология, 14.05.04 – Электроника и автоматика физических установок.

UR - https://www.elibrary.ru/item.asp?id=42399095

M3 - Учебное издание

SN - 978-5-91128-174-8

VL - 1

BT - Методы анализа структуры и свойств материалов: Методы анализа структуры и химического состава материалов: Практикум

PB - Издательство "Форт Диалог-Исеть"

CY - Екатеринбург

ER -

ID: 20445786