Представлены результаты совместного экспериментального исследования излучательной релаксации анионных и катионных экситонов при селективном вакуумном ультрафиолетовом (в области края фундаментального поглощения) и рентгеновском (в области остовных уровней) возбуждениях бериллийсодержащих кристаллов BeO, Be2SiO4 и La2Be2O5. Результаты свидетельствуют, что релаксация анионных и катионных экситонов в поликомпонентных оксидах осуществляется в одних и тех же фрагментах ближнего порядка кристаллической решетки и обусловлена их большей предрасположенностью к короткоживущим деформациям. Обнаружено, что в La2Be2O5, отличающемся существенной разницей ионных радиусов катионов, бериллий-кислородные тетраэдры не принимают участия в процессах релаксации.