Standard

ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА ФАЗОВО-АМПЛИТУДНЫХ ФУНКЦИЙ В РЕНТГЕНОВСКОЙ И НЕЙТРОННОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ. / Саламатов, Ю. А.; Кравцов, Евгений Алексеевич.
In: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, No. 5, 2021, p. 3-12.

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Harvard

Саламатов, ЮА & Кравцов, ЕА 2021, 'ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА ФАЗОВО-АМПЛИТУДНЫХ ФУНКЦИЙ В РЕНТГЕНОВСКОЙ И НЕЙТРОННОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ', Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, no. 5, pp. 3-12. https://doi.org/10.31857/S1028096021050174

APA

Саламатов, Ю. А., & Кравцов, Е. А. (2021). ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА ФАЗОВО-АМПЛИТУДНЫХ ФУНКЦИЙ В РЕНТГЕНОВСКОЙ И НЕЙТРОННОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, (5), 3-12. https://doi.org/10.31857/S1028096021050174

Vancouver

Саламатов ЮА, Кравцов ЕА. ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА ФАЗОВО-АМПЛИТУДНЫХ ФУНКЦИЙ В РЕНТГЕНОВСКОЙ И НЕЙТРОННОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2021;(5):3-12. doi: 10.31857/S1028096021050174

Author

Саламатов, Ю. А. ; Кравцов, Евгений Алексеевич. / ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА ФАЗОВО-АМПЛИТУДНЫХ ФУНКЦИЙ В РЕНТГЕНОВСКОЙ И НЕЙТРОННОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ. In: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2021 ; No. 5. pp. 3-12.

BibTeX

@article{fdc7619fbc4247aa917b28f7b433cf99,
title = "ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА ФАЗОВО-АМПЛИТУДНЫХ ФУНКЦИЙ В РЕНТГЕНОВСКОЙ И НЕЙТРОННОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ",
abstract = "Рассмотрено применение метода фазово-амплитудных функций для расчета рефлектограмм, получаемых при отражении нейтронов или рентгеновских лучей от планарных наноструктур. Описаны несколько приближений и подстановок, которые могут быть полезны для различных задач. Показано, что данным методом можно рассчитывать рефлектометрические кривые с меньшими вычислительными затратами, чем в других подходах. Приведено сравнение модельных численных результатов для различных алгоритмов. Для решения обратной задачи и восстановления потенциала рассеяния металлической пленки по экспериментальной интенсивности отражения применен алгоритм Левенберга-Марквардта. Представлены экспериментальные результаты для двух систем: пленки Al2O3//Cr(200 {\AA}) и металлической сверхрешетки Al2O3//Cr(100 {\AA})/[Gd(50 {\AA})/Cr(11 {\AA})]6/ Cr(100 {\AA}). Полученные потенциалы рассеяния позволяют сделать выводы о слоистых структурах образцов и определить их зависимость от условий роста.",
author = "Саламатов, {Ю. А.} and Кравцов, {Евгений Алексеевич}",
year = "2021",
doi = "10.31857/S1028096021050174",
language = "Русский",
pages = "3--12",
journal = "Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования",
issn = "1028-0960",
publisher = "Издательство {"}Наука{"}",
number = "5",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА ФАЗОВО-АМПЛИТУДНЫХ ФУНКЦИЙ В РЕНТГЕНОВСКОЙ И НЕЙТРОННОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ

AU - Саламатов, Ю. А.

AU - Кравцов, Евгений Алексеевич

PY - 2021

Y1 - 2021

N2 - Рассмотрено применение метода фазово-амплитудных функций для расчета рефлектограмм, получаемых при отражении нейтронов или рентгеновских лучей от планарных наноструктур. Описаны несколько приближений и подстановок, которые могут быть полезны для различных задач. Показано, что данным методом можно рассчитывать рефлектометрические кривые с меньшими вычислительными затратами, чем в других подходах. Приведено сравнение модельных численных результатов для различных алгоритмов. Для решения обратной задачи и восстановления потенциала рассеяния металлической пленки по экспериментальной интенсивности отражения применен алгоритм Левенберга-Марквардта. Представлены экспериментальные результаты для двух систем: пленки Al2O3//Cr(200 Å) и металлической сверхрешетки Al2O3//Cr(100 Å)/[Gd(50 Å)/Cr(11 Å)]6/ Cr(100 Å). Полученные потенциалы рассеяния позволяют сделать выводы о слоистых структурах образцов и определить их зависимость от условий роста.

AB - Рассмотрено применение метода фазово-амплитудных функций для расчета рефлектограмм, получаемых при отражении нейтронов или рентгеновских лучей от планарных наноструктур. Описаны несколько приближений и подстановок, которые могут быть полезны для различных задач. Показано, что данным методом можно рассчитывать рефлектометрические кривые с меньшими вычислительными затратами, чем в других подходах. Приведено сравнение модельных численных результатов для различных алгоритмов. Для решения обратной задачи и восстановления потенциала рассеяния металлической пленки по экспериментальной интенсивности отражения применен алгоритм Левенберга-Марквардта. Представлены экспериментальные результаты для двух систем: пленки Al2O3//Cr(200 Å) и металлической сверхрешетки Al2O3//Cr(100 Å)/[Gd(50 Å)/Cr(11 Å)]6/ Cr(100 Å). Полученные потенциалы рассеяния позволяют сделать выводы о слоистых структурах образцов и определить их зависимость от условий роста.

UR - https://www.elibrary.ru/item.asp?id=45067293

U2 - 10.31857/S1028096021050174

DO - 10.31857/S1028096021050174

M3 - Статья

SP - 3

EP - 12

JO - Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования

JF - Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования

SN - 1028-0960

IS - 5

ER -

ID: 21196977