61 - 70 из 78Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2012

  2. An intrinsic luminescence in binary lead silicate glasses

    Zatsepin, A. F., Zhidkov, I. S., Kukharenko, A. I., Zatsepin, D. A., Andronov, M. P. & Cholakh, S. O., мар. 2012, в: Optical Materials. 34, 5, стр. 807-811 5 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журнал › Статья › Рецензирование

  3. Structural ordering in a silica glass matrix under Mn ion implantation

    Zatsepin, D. A., Green, R. J., Hunt, A., Kurmaev, E. Z., Gavrilov, N. V. & Moewes, A., 2012, в: Journal of Physics Condensed Matter. 24, 18, 185402.

    Результаты исследований: Вклад в журнал › Статья › Рецензирование

  4. 2011

  5. Pb+ implanted SiO2 probed by soft x-ray emission and absorption spectroscopy

    Zatsepin, D. A., Hunt, A., Moewes, A., Kurmaev, E. Z., Gavrilov, N. V., Zhidkov, I. S. & Cholakh, S. O., 15 сент. 2011, в: Journal of Non-Crystalline Solids. 357, 18, стр. 3381-3384 4 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журнал › Статья › Рецензирование

  6. Electronic structure of the Si-C-N amorphous films

    Zatsepin, D. A., Kurmaev, E. Z., Moewes, A. & Cholakh, S. O., 1 сент. 2011, в: Physics of the Solid State. 53, 9, стр. 1806-1810 5 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журнал › Статья › Рецензирование

  7. Stationary and nonstationary absorption in lead silicate glasses with short-range order inversion

    Zatsepin, A. F., Kukharenko, A. I., Zatsepin, D. A., Shchapova, Y. V., Yakovlev, V. Y., Cholakh, S. O. & Zhidkov, I. S., 1 февр. 2011, в: Optical Materials. 33, 4, стр. 601-606 6 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журнал › Статья › Рецензирование

  8. 2010

  9. Soft X-ray emission spectroscopy of low-dimensional SiO 2/Si interfaces after Si + ion implantation and ion beam mixing

    Zatsepin, D. A., Kaschieva, S., Zier, M., Schmidt, B. & Fitting, H. J., 1 мар. 2010, в: Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science. 207, 3, стр. 743-747 5 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журнал › Статья › Рецензирование

  10. 2009

  11. Formation of the buffer layer of Silicon Suboxides SiOx in the Si/SiO2 low-dimensional heterosystem after Si+ Ion implantation: Si L2, 3 X-Ray emission spectra

    Zatsepin, D. A., Panin, E. A., Kaschieva, S., Fitting, H. J. & Shamin, S. N., 1 нояб. 2009, в: Physics of the Solid State. 51, 11, стр. 2241-2246 6 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журнал › Статья › Рецензирование

  12. 2008

  13. Luminescence of modified nonbridging oxygen hole centers in silica and alkali silicate glasses

    Zatsepin, A. F., Guseva, V. B. & Zatsepin, D. A., 1 дек. 2008, в: Glass Physics and Chemistry. 34, 6, стр. 709-715 7 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журнал › Статья › Рецензирование

  14. X-ray emission and photoluminescence spectroscopy of nanostructured silica with implanted copper ions

    Zatsepin, D. A., Kortov, V. S., Kurmaev, É. Z., Gavrilov, N. V., Wilks, R. G. & Moewes, A., 1 дек. 2008, в: Physics of the Solid State. 50, 12, стр. 2322-2326 5 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журнал › Статья › Рецензирование

  15. Energy band structure and X-ray spectra of phenakite Be2SiO 4

    Shein, I. R., Wilks, R., Moewes, A., Kurmaev, E. Z., Zatsepin, D. A., Kukharenko, A. I. & Cholakh, S. O., 1 апр. 2008, в: Physics of the Solid State. 50, 4, стр. 615-620 6 стр.

    Результаты исследований: Вклад в журнал › Статья › Рецензирование

Назад 1...3 4 5 6 7 8 Далее

ID: 76662